ПРОГРАММА СЕМИНАРА БелСЗМ-2006
|
1 ноября 2006 г.
|
9:00 – 14:00
|
РЕГИСТРАЦИЯ
|
14:00 – 14:30
|
Открытие 7-го Международного семинара «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» – БелСЗМ-2006
|
|
Председатель: член-корр НАН Беларуси Плескачевский Ю. М.
|
14:30 – 14:50
|
Свириденок А. И. (Гродно, Беларусь)
Актуальные проблемы применения СЗМ в Беларуси
|
14:50 – 15:10
|
Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. (Минск, Беларусь)
Метод микроконтактной печати, локальная модификация поверхности и интерпретация данных сканирующей зондовой микроскопии
|
15:10 – 15:30
|
Брич М. А., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Моделирование взаимодействия углеродной нанотрубки, как зонда АСМ, с кристаллом алмаза
|
15:30 – 15:45
|
Миронов В. Л., Грибков Б. А., Никитушкин Д. С., Фраерман А. А. (Нижний Новгород, Россия)
Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц
|
15:45 – 16:00
|
Миронов В. Л., Никитушкин Д. С., Грибков Б. А., Гусев С. А. (Нижний Новгород, Россия)
Магнитно-силовая микроскопия слабокоэрцитивных ферромагнитных наночастиц
|
16:00 – 16:30
|
ПЕРЕРЫВ
|
|
Председатель: Жавнерко Г. К.
|
16:30 – 16:50
|
Чижик С. А., Шкадаревич А. П., Кузнецова Т. А., Курганович А. М. (Минск, Беларусь)
Контроль поверхностей лазерной оптики методом АСМ
|
16:50 – 17:10
|
Ясинский В. М., Ивакин Е. В., Суходолов А. В., Хайруллина А. Я., Кокиц А. Н. (Минск, Беларусь)
Исследование особенностей возбуждения плазмон-поляритонов в периодически наноструктурированных металлических пленках методом фотонной сканирующей туннельной микроскопии
|
17:10 – 17:30
|
Сошников А. И., Гоголинский К. В., Решетов В. Н. (Троицк, Россия)
Исследование с помощью СЗМ «Наноскан» свойств области контакта токопроводящих алмазных зондов с поверхностью
|
17:30 – 17:50
|
Kukharenko L. V., Fuchs H., Leshchenko V. G., Gelis L. G., Lazareva I. V. (Минск, Беларусь)
Surface Morphological change Invesgation in surface activated platelets with the scanning force microscope
|
|
|
|
2 ноября 2006 г.
|
|
Председатель: Миронов В. Л.
|
9:00 – 9:20
|
Плескачевский Ю. М., Суслов А. A., Чикунов В. В., Цуан Янь, Чижик С. A. (Минск, Гомель, Беларусь)
Самоорганизация поверхностных слоев твердых покрытий при трении
|
9:20 – 9:40
|
Wielgo K., Ekwińska M., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Nanoindentation studies of oxynitride ultrathin films for MEMS applications
|
9:40 – 10:00
|
Pustan M., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Scale effect on mechanical properties of movable MEMS structures tested by AFM
|
10:00 – 10:20
|
Балабанова Н., Чикунов В. В., Римуза З. (Варшава, Польша; Минск, Беларусь)
Влияние сонорных осцилляций и топографии поверхности на адгезионные свойства полимерных покрытий
|
10:20 – 10:40
|
Koszewski A., Gorski T., Rymuza Z. (Варшава, Польша)
Estimation of Young`s modulus of ultrathin polymeric films for nanoimprint lithography by use of AFM
|
10:40 – 11:00
|
Chizhik S. A., Vo Thanh Tung, Chikunov V. V., Nguyen Tho Vuong (Минск, Беларусь; Вьетнам)
Influence of additional mass on quartz tuning fork in dynamic operation mode
|
11:00 – 11:30
|
ПЕРЕРЫВ
|
|
Председатель: Ясинский В. М.
|
11:30 – 11:50
|
Игнатовский М. И. (Гродно, Беларусь)
К вопросу о применении зондовой микроскопии для исследования полимерных композитов
|
11:50 – 12:10
|
Романюк В. Л., Гременок В. Ф., Меркулов В. С., Залесский В. Б., Ермаков О. В., Чигирь Г. Г., Сякерский В. С., Абетковская С. О. (Минск, Беларусь)
Исследование морфологии поверхности тонких сегнетоэлектрических пленок BaxSr1-xTiO3 с помощью атомно-силового микроскопа
|
12:10 – 12:30
|
Гончарова О. В., Гременюк В. Ф., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Применение сканирующей зондовой микроскопии для исследования влияния толщины пленочных слоев сульфида индия на их структуру
|
12:30 – 12:50
|
Пилипенко В. А., Петлицкая Т. В., Чижик С. А., Кузнецова Т. А. (Минск, Беларусь)
Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии
|
12:50 – 13:10
|
Сыроежкин С. В., Журавский В. С., Губанов А. В., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
Многоуровневая реконструкция АСМ-изображений
|
13:10 – 13:30
|
Артамонов В. В., Алексеенко А. А., Бойко А. А., Подденежный Е. Н. (Гомель, Беларусь)
Применение метода СЗМ для анализа структурных особенностей гель-стекол и керамики
|
13:30 – 14:30
|
ОБЕД
|
|
Председатель: Суслов А. А.
|
14:30 – 14:50
|
Абетковская С. О. (Минск, Беларусь)
Влияние параметров зонда и образца на фазовый контраст и деформирование в контакте зонд-образец для динамического режима АСМ
|
14:50 – 15:10
|
Бондаренко М. А., Шевченко Ю. Б., Бойко В. П., Коваленко Ю. И., Яценко И. В., Канашевич Г. В., Ващенко В. А. (Черкассы, Украина)
Исследование микрогеометрии поверхности оптических стекол после электронной и после лазерной обработки методом атомно-силовой микроскопии
|
15:10 – 15:25
|
Бондаренко М. А., Бондаренко Ю. Ю., Бабаев А. К., Яценко И. В., Рева И. А., Конопальцев Л. И., Ващенко В. А. (Черкассы, Украина)
Применение метода атомно-силовой микроскопии в прогнозировании срока эксплуатации пьезоэлектрических преобразователей медицинских приборов
|
15:25 – 15:45
|
Kotov D. A., Dubkova V. I. (Минск, Беларусь)
Application of Atomic forse microscopy for study of modified carbon fiber surface
|
15:45–16:15
|
ПЕРЕРЫВ
|
|
Председатель: Кухаренко Л. В.
|
16:15 – 16:35
|
Стародубцева М. Н., Кузнецова Т. Г., Егоренков Н. И. (Гомель, Беларусь)
АСМ исследование эритроцитов, кренированных активными формами азота
|
16:35 – 16:55
|
Кузнецова Т. Г., Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И. (Гомель, Беларусь)
Определение механических свойств клеточных поверхностей
|
16:55 – 17:15
|
Слобожанина Е. И., Козлова Н. М., Ясинский В. М., Филимоненко Д. С., Хайруллина А. Я. (Минск, Беларусь)
Исследование Zn-индуцированных изменений в эритроцитарных мембранах методом атомно-силовой микроскопии
|
17:15 – 17:35
|
Трушко А. В., Чижик С. А. (Минск, Беларусь)
АСМ анализ хрящевых тканей
|
|
|
|
3 ноября 2006 г.
|
|
Председатель: Меркулов В. С.
|
10:00 – 10:20
|
Джилавдари И. З., Какошко Е. Ю. (Минск, Беларусь)
Исследование упругих растяжений и диссипации энергии на поверхности кристалла методом микродеформаций под действием качающегося шарика
|
10:20 – 10:40
|
Айзикович С. М., Кренев Л. И. Трубчик И. С. (Ростов-на-Дону, Россия)
Статическое исследование механических свойств функционально-градиентных покрытий при воздействии с поверхности
|
10:40 – 11:00
|
Шипица Н. А. (Минск, Беларусь)
Исследования поверхности сканирующим датчиком Кельвина
|
11:00 – 11:15
|
Циркунова Н. Г., Борисенко В. Е. (Минск, Беларусь)
Геометрия зондовой микроскопии для модели окружностей
|
11:15 – 11:45
|
ПЕРЕРЫВ
|
|
Председатель: Чижик С. А.
|
11:45 – 12:10
|
Киселева О. И. (Москва, Россия)
Новое оборудование компании Veeco для исследования свойств полупроводниковых материалов на наноуровне
|
12:10 – 12:35
|
Малиновская О. С. (Москва, Россия)
Исследование нанотрубок и других углеродных наноструктур с помощью сканирующего туннельного микроскопа НТК «Умка»
|
12:35 – 13:00
|
Суслов А. А., Шашолко Д. И. (Гомель, Беларусь)
Испоьзование программного пакета SurfaceXplorer для обработки, визуализации и анализа СЗМ-изображений
|
|
|
|
СТЕНДОВЫЕ ДОКЛАДЫ
|
1
|
Дубравин А. М., Комков О. Ю. (Гомель, Беларусь)
Контролируемое перемещение наночастиц по поверхности подложки в режиме кратковременного контакта зонда с поверхностью образца
|
2
|
Дубравин А. М., Комков О. Ю., Yoon Eui-Sung (Гомель, Беларусь; Сеул, Корея)
Формирование нанорельефа при локальном оксидировании поверхности кремния с помощью атомно-силового микроскопа
|
3
|
Дубравин А. М. (Гомель, Беларусь)
Моделирование динамического контакта Зонд - Образец.
|
4
|
Дубравин А. М.,. Комков О. Ю, Браилко Н. Н. (Гомель, Беларусь)
Некоторые особенности АСМ изображений и их коррекции
|
5
|
Барайшук С. М., Верес О. Г., Ташлыков И. С. (Минск, Беларусь)
Топография и свойства поверхности изделий, модифицированных ионно-ассистированным осаждением покрытий
|
6
|
Чапланова Ж. Д., Михайловский Ю. К., Агабеков В. Е., Ольховик В. К., Галиновский Н. А., Грачева Е. А. (Минск, Беларусь)
Изучение морфологии термонапыленных тонких бензоксазольных производных бифенила методом сканирующей зондовой микроскопии
|
7
|
Игнатовский М. И., Свириденок А. И., Смуругов В. А., Ховатов П. А., Чмыхова Т. Г. (Гродно, Беларусь)
Влияние нанонаполнителей на картину износа поверхности стали в субмикронном диапазоне
|
8
|
Kukharenko L. V., Koshikawa T., Aleinikova O. V., Shman T. V., Krylov A. B., Ivanov A. A., Tsirkunova N. G. (Минск, Беларусь)
Combination of confocal laser scanning microscopy with scanning force microscopy for K562 cells study
|
9
|
Chizhik S. A., Vo Thanh Tung, Chikunov V. V., Nguyen Tho Vuong (Минск, Беларусь; Вьетнам)
Influence of additional mass on quartz tunning fork in dynamic operation mode
|
|
|
13:00 – 14:00
|
КРУГЛЫЙ СТОЛ
|
14:00 – 14:30
|
ЗАКРЫТИЕ СЕМИНАРА
|
|
