Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам





НазваниеДипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам
страница6/18
Дата публикации04.04.2015
Размер0.93 Mb.
ТипДиплом
100-bal.ru > Право > Диплом
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18

4. Расчет безотказности по справочнику «Надежность ЭРИ ИП» редакции 2006г.


Для расчета безотказности по справочнику «Надежность ЭРИ ИП» редакции 2006г. был использован программный комплекс АСОНИКА-К. Расположенная на сервере подсистема, содержит всю необходимую информацию о характеристиках надежности ЭРИ в объеме, полностью соответствующему российскому справочнику «Надежность ЭРИ ИП» редакции 2006г.

Для заполнения необходимых данных в АСОНИКА-К использовалась подробная таблица из Приложения №1 к диплому

Для расчета в системе АСОНИКА-К необходимо добавить ЭРИ из группы интегральные микросхемы «Надежность ЭРИ ИП». Ввести необходимые для расчета условия. Затем по пунктам заполняются необходимые для расчета данные:

1. Выбор группы ЭРИ. В соответствии с типом ЭРИ выбираем группу.



Рис. 1.8. Выбор группы ЭРИ в соответствии с типом.

2. Затем в связи с тем какая подгруппа выбираем подгруппу ЭРИ.

Рис. 1.9. Выбор подгруппы ЭРИ.

3. Необходимо ввести сокращённый тип и номер технического устройства. К примеру, в случае с операционным усилителем TI OPA-2333HT, вводим следующие обозначения:



Рис. 1.10. Ввод сокращённого типа ЭРИ/

4. Вводим позиционное обозначение устройства.



Рис. 1.11. Ввод позиционного обозначения

5. Вводим технические параметры интегральной микросхемы, которые берем из таблицы в Приложении №1. На Рис.1.12 и Рис. 1.13 показан ввод технических параметров на примере операционного усилителя Texas Instruments OPA-2333HT. Аналогично вводятся технические параметры для остальных микросхем, кроме микросхем памяти.



Рис. 1.12. Ввод параметров ИМС группы «Цифровые и аналоговые ИС, ПЛИС, микропроцессоры» №1



Рис. 1.12. Ввод параметров ИМС группы «Цифровые и аналоговые ИС, ПЛИС, микропроцессоры» №2

6. Выбираем параметры типа хранения ИМС. В данном случае для всех 5 ИМС из Приложения №1 необходимо выбрать согласно исходным данным – «в отапливаемом помещении».



Рис. 1.14. Выбор типа хранения.

7. Выбираем группу аппаратуры в соответствии с ГОСТ В 20.39.304-98. В данном случае для 5 ИМС выбираем группу 1.1, что соответствует «аппаратура стационарных помещений, сооружений».



Рис. 1.15. Выбор группы аппаратуры.

8. Если микросхема входит в группу «микросхемы памяти», то как было сказано в пункте 5 выбираются другие параметры, в отличии от группы «Цифровые и аналоговые ИС, ПЛИС, микропроцессоры». Данные параметры показаны на Рис. 4.16. и Рис. 4.17. на примере микросхемы памяти Microsemi ProASIC3 (A3P060).



Рис. 1.16. Ввод параметров для группы «Микросхемы памяти» №1.



Рис. 1.17. Ввод параметров для группы «Микросхемы памяти» №2.

9. На этом ввод параметров закончен. Интегральная микросхема добавляется в проект для расчета надёжности. На Рис. 1.18. показано как выглядит окно АСОНИКА-К с добавленными ИМС и всеми заполненными параметрами для расчета. На этом ввод параметров закончен. Интегральная микросхема добавляется в проект для расчета надёжности.

Рис. 1.18. Вид окна АСОНИКА-К с введёнными параметрами пяти ИМС по справочнику «Надёжность ЭРИ ИП» редакции 2006г..



10. Нажимаем расчет параметров и выводим результаты. В итоге получаем эксплуатационную интенсивность отказов и график интенсивности отказов показанный на рис. 1.19.

Эксплуатационная интенсивность отказов представлена в таблице 1.4.

Таблица 1.4.

Наименование ИМС

Эксплуатационная интенсивность отказов

λЭ

Texas Instruments OPA-2333 (DA1)

3,31e-10

Mirosemi A3P0602

9,09e-10

Atmel AT32UC3A05123

1,89e-08

Microchip TC44674

7,78e-11

Xilinx XC3S2005

5,06e-09


Рис. 1.19. Эксплуатационная интенсивность отказов 5 ИМС
d:\laboratory\asonika-k\эри ип\0.bmp


1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   18

Похожие:

Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПрограмма повышения квалификации введение в проектирование аналоговых...
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Национальный исследовательский университет
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconДипломному проекту На тему: «Проектирование и разработка автоматизированной...
Охватывают различные подразделения, начиная с приема больного в стационаре и заканчивая его выпиской. В медицинских учреждениях работает...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРекомендации специалистам патентных служб к содержанию и последовательности...
Эвм, базы данных, топологии интегральных микросхем на результаты научно-исследовательских, проектно-конструкторских и технологических...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: «Разработка crm-системы...
В данном дипломном проекте разрабатывается система управления взаимоотношениями с клиентами на основе Mayral Framework
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconУведомление
Оис) и прошу(сим) рассмотреть первичные материалы заявки на предполагаемый служебный оис: изобретение (ИЗ), полезную модель (ПМ),...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИнструкция по порядку оформления и регистрации объектов интеллектуальной...
Баз данных, программ для эвм, топологий интегральных микросхем, изобретений, полезных моделей, промышленных образцов и др объектов...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат по дисциплине: «Микропроцессорные средства систем автоматизации и управления»
И сегодня, аналогично тому, как из класса микропроцессоров выделились микроконтроллеры, сформировался новый класс цифровых микросхем...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуального...
На тему: ≪Разработка виртуального стенда для изучения методик построения vpn соединений≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconО правовой охране топологий интегральных микросхем
Имс) микроэлектронное изделие окончательной или промежуточной формы, предназначенное для выполнения функции электронной схемы, элементы...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconМетодические указания по дипломному проектированию, разрабатываемые выпускающими
Методические указания к дипломному проектированию (часть 2) по специальности 270113 «Механизация и автоматизация строительства» на...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРадиофизический факультет
Целью изучения дисциплины является ознакомление с видами и моделями информационных сигналов, с основными методами аналоговой и цифровой...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуальной...
На тему: ≪Разработка виртуальной среды для освоения протоколов распределенной аутентификации и авторизации пользователей≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат отчет по нир на тему: Разработка и внедрение подсистемы ситуационного...
Моделирование экономических систем, демография и трудовые ресурсы, долгосрочное прогнозирование, ситуационное прогнозирование и индикативное...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат на тему: Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители....
Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители. Технические параметры


Школьные материалы


При копировании материала укажите ссылку © 2013
контакты
100-bal.ru
Поиск