Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам





НазваниеДипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам
страница7/18
Дата публикации04.04.2015
Размер0.93 Mb.
ТипДиплом
100-bal.ru > Право > Диплом
1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   ...   18

5. Расчет безотказности по справочнику «MIL-HDBK-217F».


Для расчета безотказности по справочнику «MIL-HDBK-217F» был использован, как и в случае с расчетом по справочнику «Надёжность ЭРИ ИП» редакции 2006г., программный комплекс АСОНИКА-К. Расположенная на сервере подсистема, содержит всю необходимую информацию о характеристиках надежности ЭРИ в объеме, полностью соответствующему американскому Справочнику «MIL-HDBK-217F».

Для заполнения необходимых данных в АСОНИКА-К использовалась подробная таблица из Приложения №1 к диплому, в которой введены параметры 5 ИМС выбранных в пункте 1.3 к диплому.

Для расчета в системе АСОНИКА-К необходимо добавить ЭРИ из группы интегральные микросхемы «MIL-HDBK-217F». Затем по пунктам заполняются необходимые для расчета данные:

1. Выбор группы ЭРИ. В соответствии с типом ЭРИ выбираем группу.

Рис. 1.20. Выбор группы ЭРИ в соответствии с типом.


2. Затем в связи с тем какая подгруппа выбираем подгруппу ЭРИ.

Рис. 1.21. Выбор подгруппы ЭРИ.

3. Необходимо ввести сокращённый тип и номер технического устройства. К примеру, в случае с операционным усилителем Texas Instruments OPA-2333HTвводим следующие обозначения:



Рис. 1.22. Ввод сокращенного типа и номера ЭРИ.
4. Вводим позиционное обозначение устройства.



Рис. 1.23. Ввод позиционного обозначения.

5. Вводим технические параметры интегральной микросхемы, которые берем из таблицы в Приложении №1. На рис. 4.24. показан ввод параметров на примере операционного усилителя Texas Instruments OPA-2333HT. Если же у нас ИС является микросхемой памяти, то вместо количества элементов нужно ввести количество бит. Также необходимо ввести: приёмку, время применения микросхемы, мощность, температуру, количество контактов, тип корпуса.


Рис. 1.24. Ввод параметров ЭРИ.





Рис. 1.25. Выбор типа хранения.
6. Выбираем параметры типа хранения ИМС. В данном случае для всех 5 ИМС из Приложения №1 необходимо выбрать согласно исходным данным – «в отапливаемом помещении».



Рис. 1.26. Выбор группы аппаратуры.
7. В соответствии с американским стандартом, приведенным в справочнике «MIL-HDBK-217F», выбираем группу аппаратуры. Для пяти ИМС указанных в ТЗ, выбираем группу Gb, которая соответствует группе 1.1 из ГОСТ В 20.39.304-98.


8. На этом ввод параметров закончен. Интегральная микросхема добавляется в проект для расчета надёжности. На рис. 1.28 показано как выглядит окно АСОНИКА-К с добавленными ИМС и всеми заполненными параметрами для расчета. На этом ввод параметров закончен. Интегральная микросхема добавляется в проект для расчета надёжности.

9. Нажимаем расчет параметров и выводим результаты. В итоге получаем эксплуатационную интенсивность отказов и график интенсивности отказов показанный на рис. 1.27.

Эксплуатационная интенсивность отказов представлена в таблице 1.5.

Таблица 1.5.

Наименование ИМС

Эксплуатационная интенсивность отказов

λЭ

Texas Instruments OPA-2333 (DA1)

2,13e-10

Miсrosemi A3P0602 (DS2)

2,51e-08

Atmel AT32UC3A05123

3,50e-08

Microchip TC44674

1,72e-08

Xilinx XC3S2005

1,88e-09


Рис. 1.27. График эксплуатационной интенсивности отказов 5 ИМС.
d:\laboratory\asonika-k\mil hdbk 217\0.bmp




Рис.1.28.Вид окна АСОНИКА-К с введёнными параметрами пяти ИМС по справочнику «MIL-HDBK-217F».


1   2   3   4   5   6   7   8   9   10   ...   18

Похожие:

Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПрограмма повышения квалификации введение в проектирование аналоговых...
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Национальный исследовательский университет
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconДипломному проекту На тему: «Проектирование и разработка автоматизированной...
Охватывают различные подразделения, начиная с приема больного в стационаре и заканчивая его выпиской. В медицинских учреждениях работает...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРекомендации специалистам патентных служб к содержанию и последовательности...
Эвм, базы данных, топологии интегральных микросхем на результаты научно-исследовательских, проектно-конструкторских и технологических...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: «Разработка crm-системы...
В данном дипломном проекте разрабатывается система управления взаимоотношениями с клиентами на основе Mayral Framework
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconУведомление
Оис) и прошу(сим) рассмотреть первичные материалы заявки на предполагаемый служебный оис: изобретение (ИЗ), полезную модель (ПМ),...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИнструкция по порядку оформления и регистрации объектов интеллектуальной...
Баз данных, программ для эвм, топологий интегральных микросхем, изобретений, полезных моделей, промышленных образцов и др объектов...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат по дисциплине: «Микропроцессорные средства систем автоматизации и управления»
И сегодня, аналогично тому, как из класса микропроцессоров выделились микроконтроллеры, сформировался новый класс цифровых микросхем...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуального...
На тему: ≪Разработка виртуального стенда для изучения методик построения vpn соединений≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconО правовой охране топологий интегральных микросхем
Имс) микроэлектронное изделие окончательной или промежуточной формы, предназначенное для выполнения функции электронной схемы, элементы...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconМетодические указания по дипломному проектированию, разрабатываемые выпускающими
Методические указания к дипломному проектированию (часть 2) по специальности 270113 «Механизация и автоматизация строительства» на...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРадиофизический факультет
Целью изучения дисциплины является ознакомление с видами и моделями информационных сигналов, с основными методами аналоговой и цифровой...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуальной...
На тему: ≪Разработка виртуальной среды для освоения протоколов распределенной аутентификации и авторизации пользователей≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат отчет по нир на тему: Разработка и внедрение подсистемы ситуационного...
Моделирование экономических систем, демография и трудовые ресурсы, долгосрочное прогнозирование, ситуационное прогнозирование и индикативное...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат на тему: Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители....
Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители. Технические параметры


Школьные материалы


При копировании материала укажите ссылку © 2013
контакты
100-bal.ru
Поиск