Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам





НазваниеДипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам
страница9/18
Дата публикации04.04.2015
Размер0.93 Mb.
ТипДиплом
100-bal.ru > Право > Диплом
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   18

8. Создание алгоритма методики оценки безотказности интегральных микросхем по конструктивно-технологическим параметрам на основе «RADC-TR-89-177».


Подробное описание математической модели основанной на справочнике [4] приведено в главе №5 (Конструктивно-технологическая часть проекта). Алгоритм для расчёта эксплуатационной интенсивности отказов по математической модели из справочника [4] изображен на Рис. 1.33.

Рис. 1.33. Алгоритм расчета эксплуатационной интенсивности отказов на основе справочника [4].

9. Расчет безотказности СБИС на основе полученного алгоритма.


Для расчёта эксплуатационной интенсивности отказов пяти интегральных микросхем зарубежного производства из технического задания на основе алгоритма из раздела №1.8, был использован программный комплекс Mathcad 15.

Mathcad 15 – программное средство, предназначенное для проведения на компьютере технических и математических расчётов. Пользователю предоставлено множество инструментов для работы с текстами, формулами, графиками и числами. В программе Mathcadдоступно около сотни логических функций и операторов, которые предназначены для символьного и численного решения технических и математических задач любой сложности.

Программа расчета эксплуатационной интенсивности отказов построена на основе алгоритма из пункта №1.8. Для ввода исходных параметров используется таблица П1.1 из приложения №1 к диплому, в ней указаны все необходимые технические параметры для пяти ИМС из технического задания.

На рис. 1.34. и рис. 1.35. показан текст программы для расчета эксплуатационной интенсивности отказов , на примере ИМС Atmel AT32UC3A0512.

В приложении №2 к диплому приведён расчёт для остальных интегральных микросхем из технического задания:

  • Texas Instruments OPA2333-HT

  • Mirosemi (Actel)ProASIC3 A3P0602

  • Microchip TC4467

  • Xilinx XC3S2005



Рис. 1.34. Программа расчёта интенсивности отказов в Mathcad на примере ИМС Atmel



Рис. 1.35. Программа расчёта интенсивности отказов в Mathcad на примере ИМС Atmel (продолжение)

Результаты расчета эксплуатационной интенсивности отказов внесены в таблицу 1.7 и для наглядности построена диаграмма интенсивностей отказа по справочнику [4], которая изображена на рис. 1.36.

Таблица 1.9.

Название ИМС

Эксплуатационная интенсивность отказов

λЭ

Texas Instruments OPA-2333

5,342E-8

Mirosemi A3P0602

7,552E-8

Atmel AT32UC3A05123

9,394E-8

Microchip TC4467

5,187E-8

Xilinx XC3S2005

5,286E-8


Рис. 1.36, Интенсивность отказа, рассчитанная по американскому справочнику RADC-TR-89-177


10. Сравнение результатов, полученных на основе стандартизированных методик, с результатами, полученными на основе RADC-TR-89-177.


Для проведения сравнительного анализа была составлена сводная таблица №10., в которую были занесены эксплуатационные интенсивности отказов пяти ИМС, которые были просчитана по стандартизированным методикам и методике из справочника [4].

Таблица 1.10.

Название ИМС

, «Надёжность ЭРИ ИП»

, «MIL-HDBK-217F»

, «RIAC-HDBK-217PLUS»

, «RADC-TR-89-177»

Texas Instruments OPA-2333

3,31e-10

2,13e-10

1,4674099794653E-6

3,436E-7

Mirosemi ProASIC3 A3P0602

9,09e-10

2,51e-08

1,45472180979708E-6

4,070E-7

Atmel AT32UC3A05123

1,89e-08

3,50e-08

1,73157164696642E-6

6,487E-7

Microchip TC4467

7,78e-11

1,72e-08

1,31894290078194E-6

3,047E-7

Xilinx Sparta XC3S2005

5,06e-09

1,88e-09

1,29640843649631E-6

2,650E-7

Для наглядности результаты таблицы изображены на рис. 1.37. в виде сравнительной диаграммы. На ней изображены все существующие методики в сравнении с RADC-TR-89-177, которая выделена зелёным цветом.

Рис. 1.37. Сравнительная диаграмма расчета эксплуатационной интенсивности отказов, по различным методикам.
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   18

Похожие:

Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИстория развития интегральных микросхем. Факторы прогресса технологии...
История развития техники микропроцессоров и микропроцессорной вычислительной техники
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПрограмма повышения квалификации введение в проектирование аналоговых...
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Национальный исследовательский университет
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconДипломному проекту На тему: «Проектирование и разработка автоматизированной...
Охватывают различные подразделения, начиная с приема больного в стационаре и заканчивая его выпиской. В медицинских учреждениях работает...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРекомендации специалистам патентных служб к содержанию и последовательности...
Эвм, базы данных, топологии интегральных микросхем на результаты научно-исследовательских, проектно-конструкторских и технологических...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: «Разработка crm-системы...
В данном дипломном проекте разрабатывается система управления взаимоотношениями с клиентами на основе Mayral Framework
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconУведомление
Оис) и прошу(сим) рассмотреть первичные материалы заявки на предполагаемый служебный оис: изобретение (ИЗ), полезную модель (ПМ),...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconИнструкция по порядку оформления и регистрации объектов интеллектуальной...
Баз данных, программ для эвм, топологий интегральных микросхем, изобретений, полезных моделей, промышленных образцов и др объектов...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат по дисциплине: «Микропроцессорные средства систем автоматизации и управления»
И сегодня, аналогично тому, как из класса микропроцессоров выделились микроконтроллеры, сформировался новый класс цифровых микросхем...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуального...
На тему: ≪Разработка виртуального стенда для изучения методик построения vpn соединений≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconО правовой охране топологий интегральных микросхем
Имс) микроэлектронное изделие окончательной или промежуточной формы, предназначенное для выполнения функции электронной схемы, элементы...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconМетодические указания по дипломному проектированию, разрабатываемые выпускающими
Методические указания к дипломному проектированию (часть 2) по специальности 270113 «Механизация и автоматизация строительства» на...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРадиофизический факультет
Целью изучения дисциплины является ознакомление с видами и моделями информационных сигналов, с основными методами аналоговой и цифровой...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconПояснительная записка к дипломному проекту На тему: ≪Разработка виртуальной...
На тему: ≪Разработка виртуальной среды для освоения протоколов распределенной аутентификации и авторизации пользователей≫
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат отчет по нир на тему: Разработка и внедрение подсистемы ситуационного...
Моделирование экономических систем, демография и трудовые ресурсы, долгосрочное прогнозирование, ситуационное прогнозирование и индикативное...
Дипломному проекту На тему: Прогнозирование безотказности современных цифровых интегральных микросхем по конструктивно технологическим параметрам iconРеферат на тему: Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители....
Конфигурационные пзу, ппзу. Типы микросхем. Производители. Технические параметры


Школьные материалы


При копировании материала укажите ссылку © 2013
контакты
100-bal.ru
Поиск