Протокол заседания от 2012 года №





НазваниеПротокол заседания от 2012 года №
страница9/17
Дата публикации24.06.2013
Размер1.41 Mb.
ТипРешение
100-bal.ru > Бухгалтерия > Решение
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   17

1.3.2. Сборочное производство



Руководитель: Сидоренко В.Н.
Для осуществления сборки кристаллов микросхем и датчиков в корпуса, проведения измерений электрических и функциональных параметров готовых изделий, а также некоторых видов контроля микросхем сформирован Центр сборки и испытаний «Зеленоградского нанотехнологического центра».

В настоящее время центр укомплектован современным оборудованием, обеспечивающим реализацию операций с прецензионной точностью:

На базе Центра сборки и испытаний осуществляется сборка кристаллов микросхем и датчиков в корпуса, проведения измерений электрических и функциональных параметров готовых изделий, а также некоторых видов контроля микросхем. Центр размещен в чистом производственном помещении класса «10 000» (ISO 7) и оснащен комплектом новейшего оборудования от ведущих мировых производителей. Наиболее ответственные операции технологического процесса выполняются высокоточными автоматическими установками, что позволяет осуществлять наиболее ответственные операции технологического процесса автоматическими установками, что обеспечивает высокую точность и надежность конечной продукции.


Ниже приведен перечень производственного и испытательного оборудования:


description: description: flex

Установка тестирования микросхем UltraFlex.


Установка предназначена для контроля электрических и функциональных параметров микросхем. Технические показатели:

  • Количество источников питания: 20.

  • Количество цифровых магистралей: 256.

  • Количество аналоговых генераторов: 2.

Производительность (зависит от сложности программы тестирования):
- до 300 микросхем в час с применением автоматического сортировщика;
- до 1000 кристаллов микросхем с применением автоматической зондовой установки.

description: description: prober

Зондовая установка UF200A/AL.


Установка предназначена для контроля электрических и функциональных параметров кристаллов в составе пластин совместно с установкой тестирования.

Технические показатели:

  • Диаметр обрабатываемых пластин: 100, 125, 150, 200 мм.

  • Степень автоматизации – полный автомат

description: description: 7600

Рентгеновский микроскоп XD7600NT.


Микроскоп предназначен для рентгеновского контроля изделий.
Технические показатели:

  • Рабочее поле: 450х510х50 мм

  • Угол наклона камеры: 600 от нормали

description: description: dad3350

Установка разделения пластин DAD3350.


Установка предназначена для надрезания/сквозного разделения полупроводниковых пластин на спутниках-носителях методом алмазной дисковой резки.
Технические показатели:

  • Степень автоматизации – полуавтомат.

  • Диаметр обрабатываемых пластин: 100, 125, 150, 200 мм.

  • Мощность электрошпинделя на валу: 1800 Вт.

  • Режущий инструмент: диск алмазный 2”.

description: description: 64000

Автомат разварки выводов методом ультразвуковой сварки 64000G5.


Установка предназначена для формирования внутренних микропроволочных соединений микросхем тонкой алюминиевой проволокой методом ультразвуковой сварки «клин-клин».
Технические показатели:

  • Степень автоматизации – автомат.

  • Диаметр применяемой проволоки: 17…50 мкм.

  • Размер рабочего поля: 250х150 мм.

description: description: 5630

Установка тестирования и ультразвуковой сварки 5630.


Установка предназначена для формирования внутренних микропроволочных соединений микросхем тонкой алюминиевой или золотой проволокой методами ультразвуковой и термозвуковой сварки «клин-клин» и тестирования микросварных соединений на прочность методами отрыва перемычки крючком и сдвига пятки сварки лопаткой.
Технические показатели:

  • Степень автоматизации – полуавтомат.

  • Диаметр применяемой проволоки: 17…75 мкм.

  • Размер рабочего поля: 100х100 мм.

  • Температура рабочего стола – до 2000С.

description: description: 9206

Линия герметизации корпусов микросхем в инертной среде методом роликовой шовной сварки с встроенной вакуумной печью HPS9206M.


Установка предназначена для герметизации корпусов микросхем в инертной среде методом электроконтактной роликовой шовной сварки с предварительной термовакуумной обработкой.
Технические показатели:

  • Общая площадь поддонов вакуумной печи: 0,64 м2.

  • Температурный диапазон печи – 50…3500С.

  • Уровень вакуума – до 10-2 мм.рт.ст.

  • Производительность вакуумной печи: до 400 изделий размером 30х30х5 мм за 48 часов (типовой процесс).

  • Размер рабочего поля сварщика: 200х200 мм.

  • Степень автоматизации – полуавтомат.
1   ...   5   6   7   8   9   10   11   12   ...   17

Похожие:

Протокол заседания от 2012 года № iconИ. А. Овчинникова Протокол №2 от 10. 02. 2012 г. Н. В. Давиденко «10»
Проведение заседания Районного методического совета по утверждению плана мероприятий Года российской истории
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол заседания от «30» августа 2011г. №01
Рассмотрено и утверждено на заседании учёного совета факультета педагогики и психологии протокол от 2012 г. №
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол от 31. 08. 2011г. №1 согласована протокол заседания управляющего...
До революции село Вязовое являлось крупным волостным центром Грайворонского уезда Курской губернии. Здесь до 1917 года действовали...
Протокол заседания от 2012 года № iconОбразовательная программа основного общего образования муниципального...
«Средняя общеобразовательная школа №5» протокол заседания № от 30 августа 2012 года
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол № заседания учёного Совета
Министерства здравоохранения Российской Федерациии их реализация на период 2012-2017 г г
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол судебного заседания по уголовному делу №1-88/09
Судом ставится вопрос о замене секретаря судебного заседания Астафьевой А. Ю. на секретаря судебного заседания Мышелову О. И
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол №1 от 15 августа 2012 года. №111 от 27 августа 2012 года
Примерной программы начального общего образования по английскому языку с учетом первой ступени (2-4 классы)
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол №1 заседания мо учителей естественнонаучного цикла от 26 августа 2011 года
С информацией по данному вопросу выступил руководитель мо марковской В. А. Он сказал
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол заседания №1 от 30. 08. 2012. Председатель педагогического совета
Цели и задачи образовательной программы третьей ступени среднего общего образования
Протокол заседания от 2012 года № iconРабочая программа по истории 11 класс (базовый уровень) на 2012 -2013...
Протокол № от 20 года от 20 года от 20 года
Протокол заседания от 2012 года № iconРабочая программа по истории 7 класс (базовый уровень) на 2012 -2013...
Протокол № от 20 года от 20 года от 20 года
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол №1 Заседания Наблюдательного совета от 20. 03. 2012г
Рассмотрение Плана финансово-хозяйственной деятельности гаук ао «Архангельский театр кукол» на 2012 год
Протокол заседания от 2012 года № iconПротокол заседания научной комиссии факультета психологии от 19 сентября...
Дэвид Карузо Ph. D., один из авторов наиболее авторитетной методики оценки эмоционального интеллекта msceit, коллега Питера Саловея...
Протокол заседания от 2012 года № iconРешение заседания кафедры Протокол №1 «03» сентября 2012 г. Программа...
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования
Протокол заседания от 2012 года № iconДоклад о наркоситуации на территории Волгоградской области по итогам 2011 года
Утвержден протоколом №2 заседания антинаркотической комиссии Волгоградской области от 23. 03. 2012 года
Протокол заседания от 2012 года № iconРешение заседания кафедры Протокол №1 «03» сентября 2012 г. Программа модуля «Невропатология»
...


Школьные материалы


При копировании материала укажите ссылку © 2013
контакты
100-bal.ru
Поиск